Page 39 - 水利学报2025年第56卷第4期

（Ｐｎ）、气孔导度（Ｇｓ）和蒸腾速率（Ｔｒ）等叶片光合特性指标采用便携式光合仪 Ｌｃｉ于晴朗天气每隔 ５ｄ测
定一次，受渍和排水期间加测。叶面积指数（ ＬＡＩ）采用 ＳｕｎＳｃａｎ植物冠层分析系统每隔 ５ｄ左右测定一次。
为减少观测时因光照等因素变化产生的影响，本文使用与对照的相对值。以净光合速率相对值的
计算为例。
处理组的净光合实测值
相对净光合速率 ＝ （１）
对照组的净光合实测均值
大豆地上部和地下部干物质积累量于成熟收获期在每个测坑取 ５株，将叶、茎、荚、果、根分
开，置于烘箱中经 １０５℃杀青 ０．５ｈ后，８０℃烘至恒重称重测定。单株实荚数、单株空荚数、单株粒
数、单株分枝数则每个测坑选取 １０株植株进行考种统计。随后将 １０株大豆籽粒晾晒干后测量籽粒总
质量，籽粒充分混匀后测定百粒重，产量由单株籽粒质量与每公顷植株数量乘积而得。

３ 结果与分析

３．１ 土壤含水率 不同排水控制深度下 ０～４０ｃｍ土层土壤重量含水率变化如图 １所示。渍前和渍后
的土壤含水率受不同排水控制深度影响，尤其渍后差异更明显。渍后土壤含水率整体上随排水控制深
度的增大而减小，尤以 ０～１０ｃｍ土层差异最大，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００渍后整个剖面的土壤含水率
均值分别比 ＣＫ增大 １２．９％、增大 ４．９％和减小 ２．８％。随着排水控制深度的增大，０～３０ｃｍ土层土壤含
水率渍后比渍前的增加量减小，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００增幅均值分别为 ６．１％、４．７％和 ２．４％。

注：图中 Ｖ、Ｒ３、Ｒ６阴影分别代表分枝期、开花结荚期、鼓粒成熟期的受渍时段，下同。
图 １ 不同排水控制深度的土壤含水率变化

整个生育期的土壤含水率随排水控制深度的增大而减小，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００下土壤整个剖
面的含水率均值分别比 ＣＫ增大 ４．３％、减小 ２．９％和减小 ６．６％，各处理 ０～１０ｃｍ土层土壤含水率差异
最大。分枝期 ０～１０ｃｍ土层处土壤含水率在各处理间的差异最大，鼓粒成熟期 ０～３０ｃｍ土层处的差异
最小。
３．２ 地下水埋深 不同排水控制深度下地下水埋深变化如图 ２所示。渍前和渍后的地下水埋深受排水
控制深度变化影响，渍后水位降落在各处理间的差异更明显。渍后地下水埋深随排水控制深度的增大
而增加，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００在排水当天地下水埋深均值分别达到 ２５．１、５０．４和 ９０．０ｃｍ，至渍后
第 ９ｄ，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００地下水埋深均值分别达到 ５９．３、６４．７和 １０２．６ｃｍ。整个生育期的地下
水埋深皆随排水控制深度的增大而增加，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００相较于 ＣＫ分别平均抬升 １３．０ｃｍ、
抬升 ４．５ｃｍ和下降 ２７．１ｃｍ，分枝期渍后地下水埋深在各处理间的差异最大。从整个生育期地下水埋深
的降落速率看，ＷＴｖａｒ、ＷＴ５０和 ＷＴ１００分别降至其控制深度所需平均时间分别为 １３．５、１．０和 １８．６ｈ，
降至 ５０ｃｍ深度所需平均时间分别为 １４８．３、１．０和 ０．７ｈ。

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